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          【新品上市】多角度納米粒度及Zeta電位分析儀

           更新時間:2022-10-25 點擊量:812

                顆粒粒度對產品的質量起著至關重要的作用,為了幫助廣大用戶準確獲得顆粒粒度信息,以便更好地指導工業生產,澳譜特科技推出了939SZ多角度納米粒度及Zeta電位分析儀。不同粒度的顆粒在不同散射角具有不同的散射特性,多角度動態光散射從多個不同的散射角進行光強自相關函數的測量,并將其結合到一個數據分析中獲取顆粒粒度分布。多角度動態光散射技術具有如下優點:  
                1.避免了對未知樣品不恰當散射角度的選擇  
                2.可以提供更多的信息進行顆粒粒度分布的反演  
                因此,多角度動態光散射技術可以獲得更多的顆粒粒度測量信息,進而提高顆粒粒度分布的準確性。  

          939SZ 納米粒度及Zeta電位分析儀.png


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